Simultane Fluoreszenzmessung einzelner Schichten in Schichtsystemen, z.B. Augen

Vorgestellt werden Vorrichtung und Verfahren zur simultanen Messung der Fluoreszenz einzelner Schichten in einem Schichtsystem trotz mangelnder Schärfentiefe.
Die Erfindung kann sowohl zur Detektion der Fluoreszenzspektren als auch zur Detektion der zeitaufgelösten Fluoreszenz von Schichten genutzt werden.
Die Erfindung ermöglicht die simultane Messung von Fluoreszenz(en) einzelner Schichten und kann in medizinischen Bereichen, beispielsweise zur Diagnose am Auge in der Ophthalmologie, genutzt werden.

 

English

Device and method for simultaneous measurement of the fluorescence of individual layers in a layer system, for example the fundus of the eye, are presented.
The invention can be used for detection of the fluorescence spectra and for detection of the time-resolved fluorescence of layers.
The invention enables the simultaneous measurement of fluorescence(s) of individual layers and can be used in medical areas, e.g. for diagnosis on the eye in ophthalmology.

 

Kontakt

Patentmanagement Thüringer Hochschulen
c/o TU Ilmenau · PATON-PTH
PF 10 05 65 · 98684 Ilmenau
Jan Schleicher
Telefon: +49 3677 69 4589
jan-axel.schleicher@tu-ilmenau.de
www.paton.de • www.transferallianz.de

 

 

Letzte Änderung: 02.07.2020 - Ansprechpartner: Webmaster